综合多年技术积累及引进先进科技研发出的一款高性能激光粒度分析仪 。它具有量程宽 、重复性好 、精度高 、测试结果真实可靠 、 自动化性能优越等诸多优点 ，真正站在了中国粒度检测领域的前沿 ，是广受客户赞誉的国产高性能干湿二合一激光粒度分析仪。该仪器测试结果严格对标行业上下游黄金标准，广泛应用于锂电、制药、化工等领域。Topsizer满足了用户在方法开发和方法转移中大幅节省成本与时间的需求，有效规避粒径检测偏差风险，为研发与质控创造核心价值。
技术指标
测量范围 • 0.02~2000μm（湿法，取决于样品），0.1~2000μm（干法，取决于样品）
测量原理 • 全量程米氏(Mie)散射理论
重复性 • 优于0.5%（标样D50偏差）
准确性 • 优于0.6%（标样D50偏差）
测量速度 • 常规测量10秒内完成
进样方式
•湿法自动化测试*，标配进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000r/min，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）
•干法自动化测试，进样器分散工作压力：0.05-0.5MPa无级连续可调，可0分散压测样压电陶瓷晶体振动进样速度无级连续可调分散管压力及负压实时传感器监控，可预警、可追溯
光路系统
• 双色光源直线光路设计，采用进口氦氖(He-Ne)激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光光源，
波长0.466μm
• 激光功率波动小于0.5%
• 采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠，探测器自动对中
• 仪器设计符合国际激光安全规范，整机激光安全I类，具备激光束自动防护功能
• 单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构；光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题
检测器
•多达98个光电探测通道，由双色光源及焦平面主探测器、广角探测器、大角度探测器、后向散射探测器组成三维立体检测系统，主光源探测角范围0.016-140°，整体无盲区
软件功能
• 软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界⾯⼈性化
• 具备SOP标准操作流程功能
• 多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要
• 有导航功能的清晰、明了的流程界面
• 具有仪器自检、进样系统识别及智能判断调整仪器状态功能
• 具有测试特征值结果超出预定范围的警告提醒功能
• 多种方式的测量数据导出，多条结果、多指标的统计趋势分析，方便数据交流
• 完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数
• 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换
• 提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能
外观尺寸
• 主机：1330×268×380mm
• 循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）
• 微量进样器：320×200×305mm（SCF-126B）
• 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）
产品特性
宽广的测量范围
Topsizer的实测范围为0.02-2000 μm，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。
对大颗粒具有强大测试性能
Topsizer具 备毫米级大颗粒的检测性能，不仅可以准确测试毫米级单分散样品，对粉体中是否含有少量大颗粒的电池材料、原料药等样品的测量也具有良好的灵敏度。
毫米级玻璃微珠
对纳米 、 亚微米等超细颗粒具有超强识别能力
Topsizer红蓝双色光源设计助益于测试范围内的单分布或多分布亚微米及纳米材料的分散粒径的高分辨能力的测量 ，使得细颗粒测试的准确性和重现性都得到提升。
100 nm（纳米）乳液
良好的重复性
Topsizer采用全自动的激光校正系统 、自动对中系统 ，从而确保了激光角度校准的准确度 ，避免了光路的飘移 ，确保测试的重复性优于0.5%（标样D50）。
良好的重现性
不同主机或不同进样器之间具有良好的重现性。
杰出的分辨能力
Topsizer能够准确测定样品中颗粒分布的微小变化， 准确反映样品的实际粒度分布，满足技术研究和质量控制的需要。
快速的测试速度
Topsizer优越的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的样品测试均能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好地满足了用户的需求。
高灵敏度
多达98个光电探测通道，由双色光源及焦平面主探测器、广角探测器、大角度探测器、后向散射探测器组成了三维立体无盲区的检测系统。软件自动实现每次测试之前信噪度检测，使仪器对大小颗粒的微小变化保持着杰出的灵敏度。
良好适应性
可选多款性能优异的样品分散系统，即使对于大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果且不沉淀，从而 尽可能满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。
