NS-Zeta电位分析仪是在成功引进和吸收马尔文帕纳科(Malvern Panalytical)颗粒表征技术后，在NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪基础上专注优化电位分析性能的新一代产品。NS-Zeta融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位分析技术，显著提升电位测试的精度与稳定性，同时支持Zeta电位分布分析，满足纳米至微米级颗粒的Zeta电位表征需求。仪器搭载进口氦氖激光器与APD检测器等优质硬件，结合数据质量智能反馈系统及GMP合规管理功能，为药物制剂、电极浆料、矿物浮选、污水处理等工业场景提供高可靠性的分散稳定性评价方案，赋能材料表面修饰活化
技术指标
Zeta 电位范围 • 无实际限制
适用测试的粒径上限 • 不小于100μm (取决于样品)
最大电泳速率 • ＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s
测量原理 • 电泳光散射法(ELS)
最高样品浓度 • 40% w/v (取决于样品及样品池)
最小样品容积
• 20μL
最高样品电导率
• 260mS/cm
检测技术
• 快慢场混合相位分析(M3-PALS)，恒流模式
激光光源
• 高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。
整机激光安全
• I类
检测角度 • 13
检测器 • 雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm
相关器 • 采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围
冷凝控制 • 干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)
具有兼容 • 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能
温度控制范围 • 0 - 120 ℃
温度控制最高精度 • ± 0.1 ℃
主机尺寸 • 322×565×245 mm (W×D×H)
主机净重 • 19 kg
电源要求 • AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A
功率 • 最大值100W，典型值45W
推荐计算机最低配置 • Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上
计算机接口 • USB 2.0或更高
推荐操作系统 • Windows 10或Windows 11专业版
环境要求 • 温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝
产品特性
恒流模式的 M3-PALS 快慢场混合相位检测技术
NS-Zeta 融合马尔文的 M3-PALS 技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下 还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换 的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分 布的信息。相比上一代产品，NS-Zeta 能满足具有更高电导率的样品的 Zeta 电位和电泳 迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。
快慢场混合相位检测 Zeta 电位分布、相位、频移及 Zeta 电压和电流图
报告可自定义多种参数输出
NS-Zeta 具有完备的 Zeta 电位分析功能。可输出 Zeta 电位、电位分布、各电位峰的 平均值和宽度等参数。
硅溶胶的 Zeta 电位及分布
NS-Zeta 具有良好的电位和电位分布数据的重现性。
表面活性剂吐温 20 的 Zeta 电位及分布
NS-Zeta 可以测试 Zeta 电位绝对值极低的胶束等颗粒样品，具有 0 电位附近的颗 粒表征的识别性能，有利于识别对制剂稳定性有较大影响的因素。
产品应用
典型应用
• 精细化工行业纳米材料、表活、低聚物等的开发和生产质控
• 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发
• 脂质体和囊泡的开发
• 矿物堆浸及浮选
• 钻井泥浆及陶瓷浆料
• 电极浆料及助剂的稳定性表征
• 涂覆材料稳定性能预测
• 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进
• 优化水处理中絮凝剂的使用
• 胶体、乳液、浆料稳定性评价
• 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数
